在当前的汽车智能化网联化环境中，车规级安全芯片已经成为保证汽车信息安全的可靠途径之一。但是车规级安全芯片的攻击防护能力往往不够完善，攻击者通过故障注入、电磁辐射分析等攻击手段极易使车规级安全芯片暴露出安全问题。目前市面上众多汽车芯片未能将针对半侵入式攻击的防护纳入开发体系，通过故障注入的攻击方式极易获取到安全芯片内的密钥信息，从而使得整个加密体系失效。尤其是目前国内尚无车规级安全芯片相关标准约束，安全保证体系不够完善，采用半侵入式分析方法对车规级安全芯片进行检测是十分必要的。

安全芯片故障注入攻击

中汽软测具备车规级安全芯片半侵入式测试能力，主要从芯片故障攻击（包括激光注入、电磁操纵、放射线注入等）层面开展测试技术研究，能够为行业开展车规级安全芯片测试。通过在汽车芯片运行的特定时刻与特定物理位置，人为地引入瞬间可控干扰信号，改变芯片程序流程、存储器内容，以获取敏感权限操作及密钥等敏感信息，评估车规级安全芯片的防故障注入能力。

下一步，中汽软测将大力支撑车规级芯片国家标准的预研，并将在华诚认证的指导下，推进车规级安全芯片认证规程，为车企芯片选型提供重要参考依据。此外，中汽软测将联合行业，重点突破车规级芯片关键核心技术，推动车规级芯片生态建设，规范车规级芯片的安全应用，持续助力车规级芯片产业的安全与高质量发展。

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